《数字集成电路功耗与测试综合优化》：在数字集成电路领域中，随着VLSI集成度和时钟频率的不断提高，使得低层次综合效率越来越低，测试越来越困难，电路功耗问题也越来越突出。研究表明，高层次综合与设计技术能大限度地解决上述难题，优化设计目标。本书运用高层次综合与设计技术，对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究，介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法，推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。
| ISBN | 9787302455608 |
|---|---|
| 出版社 | 清华大学出版社 |
| 作者 | 孙强 |
| 尺寸 | 16 |