| 开本： |
| 纸张： |
| 包装：精装 |
| 是否套装：否 |
| 国际标准书号ISBN：9787030750785 |
| 所属分类：图书>自然科学>天文学 |
内容简介
本书分为上、下两册，系统介绍射电天文干涉测量与综合孔径技术的原理和方法。下册（第～章）：第章对的特点和工作原理进行介绍；第章介绍如何测量可见度函数并反演亮度分布；第章主要分析图像处理算法，包括压缩感知技术；第章介绍取得极大进展的天体测量技术；第章介绍传播路径上的湍流等中性介质对干涉测量的影响；第章介绍传播路径上的电离层等电离介质对干涉测量的影响；第章介绍范西泰特？策尼克定理，以及空间相干和散射；第章介绍射频干扰的来源、影响以及分析抑制方法；第章扩展讨论了干涉测量的其他应用。
本书分为上、下两册，系统介绍射电天文干涉测量与综合孔径技术的原理和方法。下册（第～章）：第章对的特点和工作原理进行介绍；第章介绍如何测量可见度函数并反演亮度分布；第章主要分析图像处理算法，包括压缩感知技术；第章介绍取得极大进展的天体测量技术；第章介绍传播路径上的湍流等中性介质对干涉测量的影响；第章介绍传播路径上的电离层等电离介质对干涉测量的影响；第章介绍范西泰特？策尼克定理，以及空间相干和散射；第章介绍射频干扰的来源、影响以及分析抑制方法；第章扩展讨论了干涉测量的其他应用。