| 开本：3开 |
| 纸张：胶版纸 |
| 包装：平装 |
| 是否套装：否 |
| 国际标准书号ISBN：9787111792512 |
| 所属分类：图书>青春文学>影视写真青春文学 |
商品详情
芯片测试与
定
机械工业
版次
出版时间 年月
开本
作者 虹飞
装帧
页数
字数
书号
本书全面介绍了芯片测试与的基础理论与核心技术，括故障模型、测试矢量生成、可测试性设计、扫描设计和内建自测试，重点分析故障与诊断方法。本书讨论了存储器测试、时延测试等关键技术，并结合全球化供应链背景，探讨芯片经济学、问题及硬件护。本书详细解析了物理攻击与篡改技术，介绍了侧信道攻击类型及御策略，深入讲解了物理不可克隆函数的原理与攻技术，以及逻辑锁定等增强技术的应用。本书还探索了结合人工智能提升芯片测试效率与性的路径。章后配有习题，以指导读者深入学习。第章配有电子设计自动化测试与实验，为读者提供动手实践机会。
本书适合作为高等院校网络空间、集成电路、计算机科学与技术、电子信息工程等相关业高年级本科生、研究生的，也可供芯片测试与行业的研发人员和广大科技工作者参考。
前言
第章概论
集成电路
数字集成电路
组合逻辑电路
时序逻辑电路
芯片产业
制造工艺
连线
封装
芯片测试
电子设计自动化
电子设计自动化与电子设计自动化软件
电子设计自动化软件的应用与研发
芯片
硬件
芯片供应链
芯片的挑战
网络空间中的芯片
测试与
芯片测试从理论和技术上支持芯片
芯片测试
习题
第章数字芯片故障模型
物理缺陷与故障模型
数字电路故障模型
固定型故障模型
晶体管闭合与开路故障模型
桥接型故障模型
输入模式故障模型
故障等与压缩
案例：故障压缩
习题
第章数字芯片测试与故障
测试矢量生成
组合逻辑电路测试矢量生成
随机测试矢量生成
穷尽测试
运算和算法
时序逻辑电路测试矢量生成
时间帧展开
基于的方法
可测试性度量
高层次可测试性度量
故障与诊断
串行故障
并行故障
并行矢量故障
演故障
并发故障
差分故障
故障诊断
故障元胞
案例：测试矢量生成
习题
第章数字芯片可测试性设计
扫描设计
扫描单元
扫描设计的流程
扫描设计的测试
扫描设计的测试矢量生成
内建自测试
测量矢量生成
输出响应分析
设计规则
架构
边界扫描
测试访问端口
控制器
寄存器和指令译码器
指令
习题
第章其他数字芯片关键测试技术
存储器测试
存储器与测试之间的联系
存储器故障
存储器测试方法
测试
测试原理
测试方法
适用故障范围
时延测试
延迟故障模型
时延测试方法
习题
第章硬件攻击与芯片
芯片供应链
芯片供应链
隐患及对策
硬件设计与
硬件分类
隐患
侧信道攻击
侧信道攻击分类
攻击方法
面向测试的攻击
基于扫描的攻击
基于标准的攻击
硬件木马
硬件木马结构
硬件木马分类
御措施
其他物理攻击
逆向工程
探测攻击
攻击
习题
第章数字芯片的增强技术
硬件混淆概述
硬件混淆的目的
不同层级的混淆
混淆技术
逻辑锁定
设计方法
攻击方法
习题
第章物理不可克隆芯片
硬件原语
物理不可克隆函数
真随机数生成器
伪设计
的种类与应用
的分类
的评估指标
设备认证
密钥生成
设计
仲裁器
异或
入式
多路选线器
轻量级
前馈仲裁器
环形振荡器
双稳态环
静态随机存储器
蝴蝶
面向的攻击方法
物理攻击方法
建模攻击方法
抵御建模攻击的手段
面向的可靠性攻分析
案例：基于的双稳态硬件设计
习题
第章人工智能时代的数字芯片测试与
前沿研究：机器学习助力芯片测试与诊断
前沿研究：面向的人工智能建模攻击
基于分解的张量经网络攻击
基于经网络计算图的近似建模攻击
基于深度经网络的建模攻击
结合侧信道信息的深度经网络建模攻击
前沿研究：破解逻辑锁定的人工智能方法
第章实验
实验一：可测试性设计
实验二：芯片之逻辑锁定
实验三：芯片与建模攻击
实验四：逻辑故障诊断
附录 数字电路逻辑门符号说明
参考文献
芯片测试与
定
机械工业
版次
出版时间 年月
开本
作者 虹飞
装帧
页数
字数
书号
本书全面介绍了芯片测试与的基础理论与核心技术，括故障模型、测试矢量生成、可测试性设计、扫描设计和内建自测试，重点分析故障与诊断方法。本书讨论了存储器测试、时延测试等关键技术，并结合全球化供应链背景，探讨芯片经济学、问题及硬件护。本书详细解析了物理攻击与篡改技术，介绍了侧信道攻击类型及御策略，深入讲解了物理不可克隆函数的原理与攻技术，以及逻辑锁定等增强技术的应用。本书还探索了结合人工智能提升芯片测试效率与性的路径。章后配有习题，以指导读者深入学习。第章配有电子设计自动化测试与实验，为读者提供动手实践机会。
本书适合作为高等院校网络空间、集成电路、计算机科学与技术、电子信息工程等相关业高年级本科生、研究生的，也可供芯片测试与行业的研发人员和广大科技工作者参考。
前言
第章概论
集成电路
数字集成电路
组合逻辑电路
时序逻辑电路
芯片产业
制造工艺
连线
封装
芯片测试
电子设计自动化
电子设计自动化与电子设计自动化软件
电子设计自动化软件的应用与研发
芯片
硬件
芯片供应链
芯片的挑战
网络空间中的芯片
测试与
芯片测试从理论和技术上支持芯片
芯片测试
习题
第章数字芯片故障模型
物理缺陷与故障模型
数字电路故障模型
固定型故障模型
晶体管闭合与开路故障模型
桥接型故障模型
输入模式故障模型
故障等与压缩
案例：故障压缩
习题
第章数字芯片测试与故障
测试矢量生成
组合逻辑电路测试矢量生成
随机测试矢量生成
穷尽测试
运算和算法
时序逻辑电路测试矢量生成
时间帧展开
基于的方法
可测试性度量
高层次可测试性度量
故障与诊断
串行故障
并行故障
并行矢量故障
演故障
并发故障
差分故障
故障诊断
故障元胞
案例：测试矢量生成
习题
第章数字芯片可测试性设计
扫描设计
扫描单元
扫描设计的流程
扫描设计的测试
扫描设计的测试矢量生成
内建自测试
测量矢量生成
输出响应分析
设计规则
架构
边界扫描
测试访问端口
控制器
寄存器和指令译码器
指令
习题
第章其他数字芯片关键测试技术
存储器测试
存储器与测试之间的联系
存储器故障
存储器测试方法
测试
测试原理
测试方法
适用故障范围
时延测试
延迟故障模型
时延测试方法
习题
第章硬件攻击与芯片
芯片供应链
芯片供应链
隐患及对策
硬件设计与
硬件分类
隐患
侧信道攻击
侧信道攻击分类
攻击方法
面向测试的攻击
基于扫描的攻击
基于标准的攻击
硬件木马
硬件木马结构
硬件木马分类
御措施
其他物理攻击
逆向工程
探测攻击
攻击
习题
第章数字芯片的增强技术
硬件混淆概述
硬件混淆的目的
不同层级的混淆
混淆技术
逻辑锁定
设计方法
攻击方法
习题
第章物理不可克隆芯片
硬件原语
物理不可克隆函数
真随机数生成器
伪设计
的种类与应用
的分类
的评估指标
设备认证
密钥生成
设计
仲裁器
异或
入式
多路选线器
轻量级
前馈仲裁器
环形振荡器
双稳态环
静态随机存储器
蝴蝶
面向的攻击方法
物理攻击方法
建模攻击方法
抵御建模攻击的手段
面向的可靠性攻分析
案例：基于的双稳态硬件设计
习题
第章人工智能时代的数字芯片测试与
前沿研究：机器学习助力芯片测试与诊断
前沿研究：面向的人工智能建模攻击
基于分解的张量经网络攻击
基于经网络计算图的近似建模攻击
基于深度经网络的建模攻击
结合侧信道信息的深度经网络建模攻击
前沿研究：破解逻辑锁定的人工智能方法
第章实验
实验一：可测试性设计
实验二：芯片之逻辑锁定
实验三：芯片与建模攻击
实验四：逻辑故障诊断
附录 数字电路逻辑门符号说明
参考文献